联系我们
了解更多详细信息，请致电
24小时销售热线：
24小时售后热线：
建议及投诉电话：
给南京宏昌企业社会责任服务有限公司留言
在线留言
微信售后服务二维码
芯片老化试验箱
型号：TYCT
产品资料下载：立即下载附件
咨询留言： 点击这里进一步咨询该产品
购买联系： 点击这里查看联系方式
解决方案： 点击这里查看解决方案
产品说明、技术参数及配置
SATAI/II/III 的测试
ISATA,PCIE的测试片数定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
温度范围可选-70度~ + 180度的测试
具备异常断电测试和老化测试
自动化温控测试
全部采用软件进行智能化控制测试
可个性化定制测试软件
快速升降温控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化测试
网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果
可开发APP远程控制测试
性能技术指标
|
型号 |
TYCT-300 |
|
温度控制范围 |
RT + 5℃~ + 150℃可选 |
|
融分布均匀度（空载） |
±2℃ |
|
测试数量 |
300片可选 |
|
电源 |
220VAC ±10%, 50HZ |
联系我们
了解更多详细信息，请致电
24小时销售热线：
24小时售后热线：
建议及投诉电话：
给南京宏昌企业社会责任服务有限公司留言
在线留言
微信售后服务二维码
